Nos últimos anos as exigências dos consumidores e a concorrência tem impulsionado a indústria automotiva a investir fortemente na qualidade de seus produtos. Critérios de qualidade passam a ser um diferencial da marca. Durante o teste de ferramentas de estampagem, mudanças são frequentes, desde a escolha de um novo material com melhor conformabilidade, até ajustes na geometria de matrizes e punções a fim de se atingir o grau de qualidade esperado para o produto. Contudo, todas essas ações são validadas por meio de inspeção, a qual é feita, via de regra, de maneira subjetiva e não propicia total confiabilidade nos resultados. Atualmente podem-se encontrar várias técnicas de inspeção de qualidade disponíveis no mercado, contudo, o grande desafio está em implementar tais técnicas em linha de produção. A defletometria, técnica que se baseia na aquisição de imagens de uma superfície especular com reflexo de um conjunto de luzes estruturadas, tem-se mostrado propícia e vencer este desafio. Esta técnica pode resolver um dos grandes desafios da indústria, a medição com alta velocidade, pois pode medir grandes áreas em poucos minutos por meio da coleta de imagens. Desta forma, o presente trabalho tem por objetivo avaliar a utilização da defletometria na inspeção de defeitos em peças metálicas, baseando-se na hipótese de que tal técnica pode ser empregada na identificação de defeitos micrométricos assim como a microscopia confocal de aberração cromática (MCAC). Como guia deste trabalho duas questões de pesquisa foram criadas. A primeira é se a identificação de defeitos micrométricos caracterizados por MCAC pode ser feita por defletometria. A segunda é saber se a variação da orientação do defeito em relação a luz projetada pode influenciar nos resultados. Para isso, foram produzidos defeitos em centro de usinagem, no formato de um canal, que foi polido para se obter uma superfície espelhada e comparado com o modelo projetado pela medição MCAC. Foi observado, porém, que fatores como a posição do defeito em relação a projeção da luz estruturada pode gerar diferentes valores de curvatura. Com esta observação foi possível concluir, por exemplo, que a posição que o inspetor se coloca diante de uma peça do automóvel pode influenciar na sua percepção da magnitude do defeito observado. Conclui-se também que é possível estabelecer uma proporção de crescimento dos valores de curvatura de acordo com a orientação do defeito em relação a projeção de luzes. Ainda pode-se afirmar que defeitos com até 15 micrômetros de profundidade em 20 milímetros de comprimento a determinadas inclinações, puderam ser identificados pela técnica de defletometria.